chroma 3650 soc測(cè)試系統(tǒng)可在一個(gè)測(cè)試頭中,提供多512 個(gè)數(shù)位通道,并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能, 高可同時(shí)測(cè)試32 個(gè)待測(cè)晶片,以提升量產(chǎn)效 能。在chroma 3650中,每片單一的lpc板擁有 64個(gè)數(shù)位通道,并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的pin function (pinf) ic,每一顆 pinf ic 具備4 個(gè)數(shù) 位通道的時(shí)序產(chǎn)生器,以提供50ps 以內(nèi)的精準(zhǔn) 度。
更新時(shí)間:2025-05-06